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WK4120穩(wěn)科LCR測試儀200KHz

1J4110    頻率范圍20Hz~100kHz

1J4120    頻率范圍20Hz~200kHz
1J4150    頻率范圍20Hz~500kHz
1J41100  頻率范圍20Hz~1MHz


測試頻率:20Hz—1MHz

基本精度:0.1%

最快測試速度:〈20ms

提供B1、B2、S1和S2測包訊號,可連接各家封裝測試機

測試參數(shù):阻抗(Z),  相位角(θ)、交流電阻(Rac)、電容(C),  損耗因數(shù)(D),電感(L), 品質(zhì)因數(shù)(Q),電納(B),  電導(G), 電抗(X), 導納(Y)和直流電阻(Rdc)

交流信號源:10mV—2Vrms

通信接口:GPIB、RS232、LAN和USB

直流疊加:內(nèi)置+2V,外加0—±40V

具有帶電電容器放電保護電路

體積小、重量輕、性價比更高的元器件測試儀器



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